Transmissionselektronenmikroskopie für Fortgeschrittene


(Prof. Dr. Gerhard Dehm)

Die Vorlesung beschäftigt sich zuerst mit dem Aufbau und der Funktionsweise moderner Durchstrahlungselektronenmikroskope (TEMs). Es werden die heute verwendeten Elektronenquellen besprochen. Die konventionelle Transmissionselektronenmikroskopie wird zuerst behandelt, bei welcher auch bereits Elektronenbeugungsmethoden zur Anwendung kommen. Dann werden hochauflösende analytische TEMs besprochen, bei denen ein Rastermodus (STEM) neue Möglichkeiten eröffnet. Es werden die Grundlagen der elastischen und inelastischen Wechselwirkungen von Elektronenstrahlen mit Werkstoffen behandelt und die Bildentstehung im konventionellen und hochauflösenden TEM analysiert. Der Einfluss von Linsenfehlern auf die Abbildung wird erläutert und die heute möglichen Korrekturmaßnahmen für die sphärische Aberration durch Cs-Korrektoren besprochen. Das physikalische Konzept der Kontrasttransferfunktion und die Auflösungsgrenzen moderner TEMs stellen weitere Themenschwerpunkte der Vorlesung dar. Im Rahmen der Vorlesung wird die Interpretation von TEM-Abbildungen und die Auswertung von Beugungsaufnahmen vermittelt.

Die Vorlesung findet im Wintersemester als Blockveranstaltung statt und wird rechtzeitig angekündigt.

Vorlesungsankündigung
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