Fortgeschrittene Methoden der Raster- und Durchstrahlungselektronenmikroskopie


(Prof. Dr.-Ing. Gunther Eggeler, Juniorprof. Dr. Tong Li, Dr. rer. nat. Christoph Somsen, Dr.-Ing. Jan Frenzel)

Es werden zunächst wichtige Aspekte des kristallinen und amorphen Aufbaus der festen Materie wiederholt. Es folgt ein Überblick über die Wechselwirkung von Elektronenstrahlen mit Materie, wobei Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen, elastisch und inelastisch gestreute Elektronen sowie die Entstehung charakteristischer Röntgenstrahlung, die für die chemische Analyse wichtig sind, besprochen werden. Es werden die physikalischen Ursachen von Bildkontrasten im Rasterund im Durchstrahlungselektronenmikroskop besprochen. Besonderes Gewicht wird auf die Entstehung von Kikuchi-Linien (KL) gelegt. Im Falle der Rasterelektronenmikroskopie wird in diesem Zusammenhang das EBSD/OIM-Verfahren besprochen (Electron Back Scatter Diffraction, Orientation Imaging). Im Falle der Durchstrahlungselektronenmikroskopie wird vermittelt, wie man KL-Muster als kristallographische Landkarten benutzt, um Kristalle zu orientieren und um definierte Zweistrahlfälle einzustellen. Vor diesem Hintergrund werden stereographische 3D-Methoden im TEM besprochen. Theoretische Konzepte werden durch praktische Beispiele aus laufenden Forschungsprojekten ergänzt. Die Vorlesung findet im Sommersemester freitags von 15.00 bis 18.00 Uhr statt.


Vorlesungsankündigung SS 2020

ACM_SS_2020.pdf
galups/juo011012/small/team_treppe.jpg
galups/ixv011012/small/people_29.jpg
galups/fkh011012/small/research_2.jpg