Fortgeschrittene Methoden der Charakterisierung von Werkstoffen


(Prof. Dr.-Ing. Gunther Eggeler, apl.-Prof. Dr.-Ing. Jan Frenzel, Dr. rer. nat. Christoph Somsen, Prof. Dr. Tong Li)

Es werden zunächst wichtige Aspekte des kristallinen und amorphen Aufbaus der festen Materie wiederholt. Es folgt ein Überblick über die Wechselwirkung von Elektronenstrahlen mit Materie, wobei Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen, elastisch und inelastisch gestreute Elektronen sowie die Entstehung charakteristischer Röntgenstrahlung, die für die chemische Analyse wichtig sind, besprochen werden. Es werden die physikalischen Ursachen von Bildkontrasten im Raster- und im Durchstrahlungselektronenmikroskop besprochen. Besonderes Gewicht wird auf die Entstehung von Kikuchi-Linien (KL) gelegt. Im Falle der Rasterelektronenmikroskopie wird in diesem Zusammenhang das EBSD/OIM-Verfahren besprochen (Electron Back Scatter Diffraction, Orientation Imaging). Im Falle der Durchstrahlungselektronenmikroskopie wird vermittelt, wie man KL-Muster als kristallographische Landkarten benutzt, um Kristalle zu orientieren und um definierte Zweistrahlfälle einzustellen. Vor diesem Hintergrund werden stereographische 3D-Methoden im TEM besprochen. Zusätzlich wird eine Einführung in die Atomsonden-Tomographie (APT) gegeben, und es wird erläutert, wie APT, EBSD und TEM korreliert werden können, um komplementäre Informationen über die Mikrostruktur zu erhalten.

Die Vorlesung findet im Sommersemester freitags statt (15:00 bis 18:00 Uhr).


Vorlesungsankündigung SS 2021

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