Elektronenmikroskopie und Röntgenbeugung


(Dr. rer. nat. Christoph Somsen, Prof. Dr.-Ing. Gunther Eggeler)

Der Einsatz der Röntgenbeugung und der Rasterelektronenmikroskopie (REM) erlaubt, Mikrostrukturen von Werkstoffen quantitativ zu beschreiben. Mit Hilfe dieser beiden Methoden kann man (i) kristalline Substanzen identifizieren und Phasenanteile in mehrphasigen Werkstoffgefügen ermitteln, (ii) Texturen bestimmen und (iii) kleine Teilchen (z. B. Karbide) abbilden und chemisch analysieren. Mit Hilfe der Rasterelektronenmikroskopie lassen sich auch Bruchflächen untersuchen, um Versagensursachen zu identifizieren. Grundlage für beide Verfahren ist die Beugung von Elektronen bzw. Röntgenstrahlung an Kristallen. Im REM-Teil der Vorlesung werden die Kontrastentstehung, die Indizierung von Elektronenbeugungsbilder und die chemische Analyse im REM (EDX) behandelt. Im Röntgenteil werden die wichtigsten werkstoffwissenschaftlichen Verfahren (Pulverdiffraktometrie, Laue-Verfahren, Eigenspannungsmessung und Texturanalyse) besprochen. Demonstrationen an einem modernen REM und an einem modernen Röntgengerät ergänzen die in der Vorlesung vermittelten theoretischen Grundlagen. Die Vorlesung findet im Sommersemester am Donnerstag von 13.00 bis 16.00 Uhr statt.

Vorlesungsankündigung SS20:

ROE&TEM SoSe-20.pdf
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