Analyse von Defekten im TEM I


(Prof. Dr. Antonin Dlouhy)

Diese Vorlesung wendet sich an fortgeschrittene Studierende, die die Grundlagen der Durchstrahlungselektronenmikroskopie erlernt haben und die diese Methode im Rahmen ihrer Forschungsarbeiten einsetzen. Die Vorlesung wird in kleinen Gruppen (n ≤ 4) zumeist direkt am TEM durchgeführt. Es geht um die Beherrschung des Beugungskontrasts. Dabei wird zunächst das Zustandekommen von Beugungsdiagrammen (Punkt-Diagramme und Kikuchi-Linien-Karten (KLK)) erläutert. Außerdem wird eingeübt, wie man mit Hilfe von KLK kristalline Proben orientieren und definierte Abbildungsbedingungen (Zweistrahlfälle) einstellen kann. Es wird besprochen, wie man physikalische und mikrostrukturelle Parameter bestimmt, die die Versetzungsstrukturen kennzeichnen (Gleitebene, Richtung des Linienelements, Burgers-Vektoren, Versetzungsdichten). Es werden die Grundlagen der Stereomikroskopie am TEM besprochen. Außerdem werden die Möglichkeiten der analytischen Durchstrahlungselektronenmikroskopie (EDX, Mikrobeugung und Z-Kontrast) vorgestellt.

Die Vorlesung findet als Blockveranstaltung sowohl im Winter- als auch im Sommersemester statt. Priorität bei der Vergabe der begrenzten Anzahl von Plätzen haben diejenigen Studierenden des Instituts für Werkstoffe, die die Durchstrahlungselektronenmikroskopie für ihre Masterarbeiten brauchen.
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